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ATE測試座(自動機臺適用）適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試.
壓蓋式設計供手工或自動加載或卸載機構
探針可更換，維修方便，成本低
適用于間距0.4mm-1.27mm產品尺寸規格DFN.QFN(1*1-8*8)
機械性能
測試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：30萬次
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬：> 20GHZ @-1db
ATE測試座(轉塔式分選機適用）
用于DFN,SOP,SOT,TO等封裝
用于芯片的快速測試.
適用于機測，轉塔式分選機
鎢鋼測試爪壽命：500W次
測試片壽命：100W次
ATE測試座(自動機臺適用）適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試.
壓蓋式設計供手工或自動加載或卸載機構
探針可更換，維修方便，成本低
適用于間距0.4mm-1.27mm產品尺寸規格DFN.QFN(1*1-8*8)
機械性能
測試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：30萬次
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬：> 20GHZ @-1db
ATE測試座(自動機臺適用）適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試.
壓蓋式設計供手工或自動加載或卸載機構
探針可更換，維修方便，成本低
適用于間距0.4mm-1.27mm產品尺寸規格DFN.QFN(1*1-8*8)
機械性能
測試座材料：Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料：AL，Cu，POM
探針類型：彈簧探針
工作溫度：-40 ~ 140度
探針壽命：30萬次
彈簧彈力：20g ~ 30g per Pin
電性能
電流：2A （單PIN支持1A）
電阻：50mΩ
頻寬：> 20GHZ @-1db
